《舊文複習》焊珠探針技術(bead probe)是由Agilent(安捷倫，現已改為是德科技(Keysight Technologies))獨家申請專利所提出，在不需要額外增加電路板空間的情況下，使用現有佈線來增加ICT(In-Circuit-Test)的測試點涵蓋率(coverage)，也就是增加印刷電路板上的測試點(Test Point)，以達到組裝電路板可以使用ICT測試的目的。
bead電路 在 電子製造，工作狂人 Facebook 的最讚貼文